高弓足需要做哪些化验检查

       本病的检测方法主要是X线路检查应在负载条件下进行足正侧检查X线片。正常足第一楔远近端关节面相互平行，而高弓多发生在第一楔跖关节，使远近端关节面平等线聚集在跖侧。M′eary测量骨中轴与第一跖骨中轴之间的夹角，当足弓正常时，两条线连续。如果角度可以测量，则足弓增加。

       正常值为150～175°。高弓足畸形的角度减小。另外，正位片测量跟距角，若20°表明有后足内翻畸形。<20°表明有后足内翻畸形。

       根据儿童步态异常，足纵弓增加伴爪趾畸形，X线检查M′eary角增大、Hibbs角度减小可诊断为高弓足。然而，应进一步检查高弓足多是由神经肌肉疾病引起的畸形，以找到原发性疾病或潜在的发病因素，如肌电图、头部或脊髓CT或MRI检查。